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        • WPA-NIR紅外應力雙折射測量系統

          更新時(shí)間:2024-08-01

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          紅外應力雙折射測量系統WPA-NIR硫系,紅外樹(shù)脂等材料對可見(jiàn)光不透過(guò),這樣的樣品殘余應力評估很難實(shí)現,為此Photonic Lattece 專(zhuān)門(mén)研制了WPA-NIR雙折射測量?jì)x,采用850nm或940nm波長(cháng),能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布。
        • WPA-200-MT應力雙折射測量系統

          更新時(shí)間:2024-08-01

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          應力雙折射測量系統WPA-200-MT是Z業(yè)用于手機鏡頭等小尺寸鏡頭的應力雙折射測量設備。鏡片的雙折射現象會(huì )造成鏡片成像性能(MTF)下降,智能手機所使用的鏡片需要高解析度,因此需要減少雙折射的影響,了解鏡片的雙折射的大小,是鏡片生產(chǎn)過(guò)程中*的,WPA-200-MT正符合這樣的需求,并能高速完成各項測量。
        • 注塑件內應力檢測儀

          更新時(shí)間:2024-08-01

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          注塑件內應力檢測儀是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量?jì)x,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量?jì)x以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業(yè)內,特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。
        • 內應力測量?jì)xPA-300-XL

          更新時(shí)間:2024-08-01

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          內應力測量?jì)xPA-300-XL是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量?jì)x,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量?jì)x以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業(yè)內,特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。
        • 雙折射測量?jì)xPA-300-MT

          更新時(shí)間:2024-08-01

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          雙折射測量?jì)xPA-300-MT是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量?jì)x,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量?jì)x以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業(yè)內,特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。
        • 雙折射測量?jì)xPA-Micro

          更新時(shí)間:2024-08-01

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          雙折射測量?jì)xPA-Micro操作簡(jiǎn)單,測量速度可以快到3秒。更直觀(guān)的全面讀取數據,無(wú)遺漏數據點(diǎn)。具有多種分析功能和測量結果的比較。維護簡(jiǎn)單,不含旋轉光學(xué)濾片的機構。高達2056x2464像素的偏振相機。
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